半導体材料・デバイスの評価 パラメータ測定と解析評価の実際 / 原タイトル:SEMICONDUCTOR MATERIAL AND DEVICE CHARACTERIZATION 原著第3版の翻訳 (単行本・ムック) / ディーター・K・シュロゥダー 嶋田恭博

半導体材料・デバイスの評価 パラメータ測定と解析評価の実際 / 原タイトル:SEMICONDUCTOR MATERIAL AND DEVICE CHARACTERIZATION 原著第3版の翻訳[本/雑誌] (単行本・ムック) / ディーター・K・シュロゥダー 嶋田恭博2012/05発売

＜商品説明＞
＜収録内容＞
抵抗率
キャリア密度とドーピング密度
接触抵抗とショットキー障壁
直列抵抗、チャネルの長さと幅、しきい値電圧
欠陥の密度と準位
酸化膜および界面にトラップされた電荷、酸化膜の厚さ
キャリアの寿命
移動度
電荷のプローブ測定
光学的評価法〔ほか〕
＜商品詳細＞
商品番号：NEOBK-1255836
De Ita K Shuro Uda Shimada Yasuhiro / Handotai Zairyo Device No Hyoka Parameter Sokutei to Kaiseki Hyoka No Jissai / Original Title: SEMICONDUCTOR MATERIAL and DEVICE CHARACTERIZATION Gencho Dai3 Han No Honyaku
メディア：本/雑誌
発売日：2012/05
JAN：9784781304793
16500円半導体材料・デバイスの評価 パラメータ測定と解析評価の実際 / 原タイトル:SEMICONDUCTOR MATERIAL AND DEVICE CHARACTERIZATION 原著第3版の翻訳 (単行本・ムック) / ディーター・K・シュロゥダー 嶋田恭博本・雑誌・コミック科学・医学・技術Amazon.co.jp: 半導体材料・デバイスの評価―パラメータ測定と解析評価"https://m.media-amazon.com/images/I/51Scpv1crWL._AC_UF1000,1000_QL80_.jpg","https://m.media-amazon.com/images/I/51Scpv1crWL._SR600,315_PIWhiteStrip,BottomLeft,0,35_PIStarRatingFOURANDHALF,BottomLeft,360,-6_SR600,315_SCLZZZZZZZ_FMpng_BG255,255,255.jpg","https://pubimg.honto.jp/ogimage/item/25179901","https://tshop.r10s.jp/book/cabinet/4793/9784781304793.jpg","https://images-fe.ssl-images-amazon.com/images/I/61vaYhaYo L._AC_UL600_SR600,600_.jpg"
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